JEM-2200FS

Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo

Cañón de emisión de campo de 200 kV
Resolución punto a punto: 0.19 nm en modo TEM
Resolución punto a punto: 0.10 nm en modo STEM
Corrector de aberración esférica en STEM
Filtro de energía tipo Omega
Sistema EDS Inca
Sistema EELS GAT-777 STEMPACK
Detector HAADF para imágenes de Contraste Z
Cámara UltraScan 2k x 2k
Portamuestras: calentamiento, enfriamiento, doble inclinación.

TEM STEM
  • Theretical Resolution: 0.187nm at Scherzer Focus

  • TEM Lattice Resolution: 0.102 nm lattice
  • Stage Stability: 0.385 nm/min
  • Contamination Test:
    Prove Size:
    • CBD 1.0 nm — 0.99nm
    • CBD 0.5 nm — 0.75nm
  • Roundness: 99.2%
  • Energy resolution: 1.05 eV
  • Resoluution:
    • Bright Field: 0.136 nm at real focus

    • Dark Field: (HAADF): 0.096 nm
    • STEM Noise: 25%
    • STEM STABILITY: < 0.2 nm
  • Cs corrector performance:
    • C1, A1, < 20 nm

    • A2, B2 < 100 nm
    • C3 < +/-5 um
    • A3 < 5 um
    • S3 < 5 um
  • Shape and size of ronchigram: 49 mrad