Asylum Research, Oxford Instruments
Ruido
< 150 pm X-Y; <35 pm Z
Tamaño de muestra
Hasta 80 mm de diámetro y 10 mm de altura.
Porta sondas/puntas
Modo AC/contacto en aire
Modo AC en alto voltaje
Convertidor STM
Modo de alta frecuencia
Aislamiento de vibraciones
Campana de aislamiento termo-acústica activa
Opciones de Hardware/Software
Sistema de visión óptico: Proporciona vista superior/inferior de la sonda y la superficie de la muestra con un microscopio óptico y una cámara CCD a color.
Controlador
IGOR Pro 6- para manejo y adquisición de datos
Argyle- para análisis y procesamiento de imágenes.
Módulo de aplicación
Accesorio de alto volatje (+/- 150V) para Microscopia de piezorespuesta
Escáner
Rango lateral (X-Y) 90 μm
Rango vertical (Z) 15 μm
Técnicas de medición posibles
Microscopía de Fuerza Atómica modo Contacto
Microscopía de Fuerza Atómica modo AC (Tapping)
Microscopía de Barrido Túnel (STM)
Mapeo de Fase
Microscopía de Piezorespuesta de Alto Voltaje
Mapeo de Fuerza
Mapeo de Viscoelasticidad AM-FM
Microscopía de Fuerzas Eléctricas
Microscopía de Fuerzas Magnéticas
Microscopía de Fuerza Lateral
Microscopía de Potencial de Superficie (Kelvin Probe Microscopy)
Nanoindentación y nanolitografía
