Philips CM-200

Microscopio Electrónico de Transmisión

Filamento de hexaboruro de lantano
Voltaje máximo de aceleración: 200 kV
Máxima resolución punto a punto: 0.27 nm
Modos TEM/STEM
Sistema EDS
Sistema PEELS 766
Sistema de adquisición de imágenes CCD
Portamuestras de calentamiento

  • Análisis de imagen con resolución de 0.25nm (2.5 x 10-10)
  • Análisis de imagen en el modo STEM (microscopía electrónica de transmisión modo barrido)
  • Análisi elemental por Espectroscopía de Discriminación de energía de Rayos X (EDS)
  • Análisi electrónica por pérdida de energía EELS (Composición, Estados de oxidación y Propiedades ópticas)
  • Difracción de electrones por área selecta, haz convergente y micro-difracción

Portamuestras y especificaciones de la muestra
(CompuStage Specimen Holder)

  • Single Tilt PW 6596/05
  • Low Background Double Tilt PW 6595/15
  • Heating Holder PW 6592/05 with Automatic Temperature Control Unit
  • Reflection Diffraction Holder PW 6593/05

Single Tilt PW 6596/05

Aplicación Especificación de la muestra
  • Investigación general de muestras de Ciencia de los Materiales
  • Rápida evaluación de muestras
  • Grabación de sus inclinaciones para la recostrucción tridimensional
  • 3.10mm diámetro máximo de rejillas o discos
  • 0.34mm de borde como espesor máximo

Low Background Double Tilt PW 6595/15

Aplicación Especificación de la muestra
  • Investigación estructural de muestras cristalinas
  • Orientación de la muestra para proyección de imagen de alta resolución
  • Campo Claro y Campo Obscuro dependiente de la difracción
  • Estudios de límite de grano
  • Microanálisis de estudios de estructura de muestras cristalinas
  • 3.10mm diámetro máximo de rejillas o discos
  • 0.34mm de borde como espesor máximo

Heating Holder PW 6592/05
with Atomatic Temperature Control Unit PW 6363/00

Aplicación Especificación de la muestra
  • Estudio de los mecanismos del crecimiento,
    en la recristalización y/o disolución en materiales de estado sólido

  • Estudio de los fenómenos de la sinterización
  • Estudio de reacciones termosensibles en la física de estado sólido
  • Estudio de transformaciones de fase
  • Estudio de fenómenos de superficie
  • 3.10mm diámetro máximo de rejillas o discos
  • 0.34mm de borde como espesor máximo